(1)显微镜法常在放大率450〜600倍的显微镜下对尘粒 讥行逐个测量，从而取得定向径、定向等面积径、投影面积径等。在测量时整个视野范围内的尘粒数不得超过50〜 70个，避免粒子间的重叠，每次至少测量200个以上。光学显 微镜可以测定微米级的粒径，电子显微镜可以测定纳米级的 粒径。

(2)    筛分法取25〜200g尘样（一般取100g作为标准）， 通过一套筛子进行筛分，按不同筛孔上的残留量计算出不同粒径 范围的颗粒质量占总质量的百分数。我国采用泰勒标准筛，孔目40fxm。筛分法可用手工和振筛机筛分，任一种筛分都要求 每分钟通过每只筛子的尘量不超过0. 05g或筛上尘量（未通过筛 孔，留在筛上的粉尘量）的0.1%。

(3)    细孔通过法常用库尔特（Coulter)计数器测量，它 使尘粒在电解介质中通过孔口，由于电阻的变化而引起电压的波 动，电压波动值越大，则尘粒的体积越大。此法测得的是等体积 径，测得的范围为0. 6〜50(Vm。此法需要的试样少（2mg)，分 析快，只需几十秒钟。

(4)    沉降法制订此法的依据是不同大小颗粒在液体介质中 的沉降速率各不相同这一原理，它是气体除尘试验研究中应用广泛的方法。